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    Acculogic FLS980飞针测试仪
    Acculogic flying probe testers


    Acculogic先进的产品,FLS980系列飞针测试仪、ICT7000内部电路测试仪和ScanNavigator边界扫描测试套件,这些产品是先进的,可扩展的解决方案用来解决广泛的测试挑战。

    Acculogic系统可用来适应各种各样的应用和客户。我们高性能测试系统的核心是可以接受下一代测试的挑战。

    FLS980 Series III 产品特点

    全功能双边系统
    闭环AccuFastTM系统,*小1um的步进精度,正负10um定位重复性
    *高可配置22组闭环飞针
    可程序控制探针角度正负6度
    电测试能力强,包含模拟信号、数字信号、混合信号和边界扫描
    先进的激光、光学和热测量以及检视能力
    带电和功能测试(可至GHz频率范围)
    通过固定旋钉*高可至128个非复用测试通道
    潜伏开路探测
    逆向工程工具套件
    *大可支持32”x 38” (813 x 965 mm) 电路板

    测试入口
    不断缩小的部件尺寸和更密集的芯片级封装技术对测试工程师提出了新的挑战。传统上安装在pcb上的测试板正在从许多设计中消失,从而减少物理测试入口。. 为了迎接新的挑战,飞行探测器必须以良好的精度进行操作。FLS980采用高度可重复的闭环直线电机驱动器和类似于操纵杆的可变角度探头模块,实现了良好的物理探测,并保证了像01005s这样的小部件的可重复探测. FLS980在被测单元(UUT)的组件和焊点一侧提供双面探测和*多22个探头模块,以促进有效率的单次测试。

    精确
    高分辨率基准摄像机和激光考虑了翘曲因素,允许在X, Y和z平面的可测试板区域进行精确的板检测。精密闭环平面直线电机(shuttles)与AccuFastTM驱动系统(1微米*小步长,10微米定位重复性)独立移动探针模块和摄像机。探测模块利用等长度的同位探针接触UUT上的目标点。每个可变角度探测模块都可以从任意方向从0到6自动调整探测角度。结合独立的shuttle和探测模块(XYZ)运动,确保良好的测试点的可测性。现在,你可以依靠FLS980来测试板,即使它的布局、尺寸或技术,使传统的在线测试和其他飞针测试成为障碍。


    探测角度
    印刷电路板的翘曲是SMT电路板装配、检验和测试过程中需要考虑的一个常见问题。在飞行探针测试中,板翘曲导致偏移而改变了目标点的物理位置。

    当探测角度为0度时,板曲不会造成探测误差,但随着探测角度的增大,探测误差也增大。使用15度探测角度在0.5毫米翘曲的板上不能可靠地探测到 0201器件的标准焊盘。将探测角度降低到3或4度可以减少与翘曲相关的不确定性,并得到可靠的探测。FLS980可变角度探测模块提供良好探测,任意方向从-6度倾斜至+6度,探针定向测试点,覆盖约60mm x 60mm的面积。随着探测角度的增加,探头滑移增加。探头滑移会损坏焊盘和过孔,并在板上留下不可接受的痕迹。

    探针模组类型:
    FLS980系统可以在顶部和底部配置*多22根飞针,以确保良好的测试覆盖率和较小测试时间。系统有三种类型的飞针模块可选:
    APM 800 先进型飞针模组,探测角度可编程。( 0 to +6°)
    BPM 700基本型飞针模组,探测角度固定 (+6°)
    VPM 600 (+0°) 垂直型飞针模组
    系统可配置多种可变角度和固定角度飞针模组.
    飞针驱动系统具有1微米*小步距、10微米定位重复性的定位分辨率,可在生产环境中可靠的探测100微米的目标尺寸。Acculogic公司将继续开发更高精度的飞针模组和识别系统,作为未来的升级.

    飞针模组规格:
    3D 可编程角度 : 0° to 6° (+6° 的固定角度的飞针)
    速度可编程
    飞针尖端半径: 50 μm – 500 μm
    尖端外形可选: 针状, 杯状, 圆顶型
    *大探测高度: 45mm
    *大元件高度: 85mm

    速度
    行探头的测试时间主要取决于测试步数和飞针运动的速度。短路测试消耗了很大部分测试时间。FLS980柔性测量系统提供了一系列的测试策略,包括边界扫描(JTAG)和NetScanTM,可以在不影响测试覆盖率和重复性的情况下显著减少测试时间。

    测量系统
    FLS980 s高速(高达1000测量/秒)模拟测量系统为所有22根飞针(顶部和底部)提供4线测量能力。所有飞针都可以作为分立和集成模拟数字器件中的驱动器、传感器或隔离和集成模拟/数字元件上的保护装置进行在线测试。模拟元件测试包括电阻、电容、电感、二极管、齐纳、晶体管、场效应管、晶闸管、光耦合器、开关、微调器、继电器、保险丝和连接器等。测试模式包括2线测试、4线测试(以及仅使用两个测试点的独特的准4线测试)。使用两组单独可用的刺激/测量资源进行开关测试。此外,可以使用电压测量模块对电压调节器和运算放大器进行通电测试。

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